中国集成电路杂志部级期刊

中国集成电路 2004年第04期杂志 文档列表

群雄逐鹿SEMICON 风云际会上海滩——SEMICON China2004掠影第1-3页

关键词: semicon；  半导体产业；  soi；  集成自动化；  湿式旋转处理；  ic验证；  

招聘第3-3页

半导体器件的加速试验方法第4-9页

关键词: 半导体器件；  加速试验；  可靠性评价；  故障机理；  

微电子器件主要失效模式与失效机理研讨第10-14页

关键词: 微电子器件；  失效模式；  失效机理；  静电损伤；  界面效应；  电迁徙效应；  经时绝缘击穿；  微电子机械系统；  

0.13μm MOSFET 器件的可靠性分析技术第15-18页

关键词: mosfet；  比例差值算符；  谱峰；  可靠性分析；  在线质量检测；  

非易失性存储器：最新发展趋势及测试评估设备第19-25页

关键词: 非易失性存储器；  espec公司；  发展趋势；  多电平应用；  闪存；  mram；  oum；  feram；  持久力测试；  操作扰动测试；  坏块控制；  

重新定义可提高成品率的设计第26-29页

关键词: 半导体制造；  光蚀刻；  成品率；  材料效应；  tapeout；  化学机械抛光；  光学逼近纠正法；  

全局综合可改进时序收敛 对设计收敛有显著影响（下）第30-32页

关键词: 时序收敛；  全局综合；  芯片设计；  设计收敛；  

针对工艺发展需求，发展专用设备第33-35页

关键词: 半导体设备；  光刻；  薄膜淀积；  ald；  

下一代光刻开发的进展第36-40页

关键词: 下一代光刻；  极远紫外光刻；  电子束光刻；  分辨率增强；  浸没法光刻；  技术节点；  

Intel攀登光刻技术的顶峰32纳米节点第41-41页

关键词: intel公司；  极远紫外；  32纳米节点；  光刻；  

超低功耗13bit CMOS△∑ A／D模拟前端的设计与实习第42-46页

关键词: cmos；  系统结构；  行为级设计；  时钟抖动；  低功耗；  直流增益；  

中国的半导体封装产业第47-50页

关键词: 中国；  半导体封装产业；  市场；  微电子封装；  先进封装；  

电能计量专用集成电路的测试方法研究第51-53页

关键词: 电能计量；  专用集成电路；  脉冲频率；  测试程序；  

新思路、新策略、新机遇勇于实践，为深圳集成电路设计产业培养大量的合格人才第54-56页

关键词: 深圳市；  集成电路设计；  人才培养；  发展策略；  人才质量；