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期刊收录
出版地区
SILC效应机理及其对Flash Memory的影响第105-107页
关键词: 应力感应泄漏电流  mosfet  栅氧化层  
2011年第17期 《科技创新导报》
10keV X射线空间辐照总剂量试验可行性研究第291-295页
关键词: 总剂量  x射线  试验  辐照  空间  辐射源  环境危害  在线测试  栅氧化层  辐射机理  剂量率  硅片  封装  
一种复合栅结构IEGT器件设计第99-102页
关键词: iegt  沟槽  n型阻挡层  饱和压降  栅氧化层  
硅片表面超薄氧化硅层厚度测量关键比对CCQM—K32第617-622页
关键词: 计量学  厚度测量  栅氧化层  sio2  si  表面化学分析  x射线光电子能谱  关键比对  
2013年第06期 《计量学报》
高温恒定电场栅氧化层TDDB寿命测试方法研究第10-13页
关键词: 栅氧化层  可靠性评价  模型  参数提取  
应变Si1-xGex沟道PMOSFET空穴局域化研究第4-9页
关键词: pmosfet  空穴局域化  栅氧化层  si帽层  sige层  缓冲层  
用电子显微镜剖析存储器器件第68-71页
关键词: 电子显微镜  存储器  透射电镜  栅氧化层  集成电路  ic微结构  
2004年第05期 《半导体技术》
SOI LDMOS栅漏电容特性的研究第352-356页
关键词: soi  ldmos  栅漏电容  栅氧化层  漂移区  p阱  
2005年第04期 《微电子学》
栅氧化层击穿的统一逾渗模型第54-58页
关键词: 栅氧化层  击穿  逾渗模型  缺陷产生机制  mos集成电路  
NBT导致的深亚微米PMOS器件退化与物理机理第1373-1377页
关键词: 器件退化  深亚微米  阈值电压漂移  栅氧化层  nbt  衬底  物理机理  依赖  影响  元素  
2005年第03期 《物理学报》
P沟道VDMOS器件抗辐射加固技术研究第581-585页
关键词: 功率器件  抗辐射加固  局部厚场氧化层  n体区  栅氧化层  
2017年第04期 《微电子学》
首款65nm FPGA Virtex-5性能获得更大提升第153-153页
关键词: fpga  asmbl架构  ic技术  栅氧化层  动态功耗  静态功耗  使用面积  a系列  
2006年第07期 《电子设计应用》
XILINX65纳米VIRTEX-5系列第67-68页
关键词: xilinx  asmbl架构  纳米  ic技术  赛灵思公司  栅氧化层  多平台  突破性  发运  
2006年第05期 《世界电信》
65nm FPGA开始新一轮竞争 功耗问题仍是最大挑战第124-124页
关键词: fpga  竞争对手  xilinx公司  stratix  功耗  65nm工艺  altera  栅氧化层  
2007年第01期 《电子设计技术》
65nm Virtex-5 FPGA取得性能与密度突破第31-31页
关键词: fpga  xilinx公司  密度  开发方法学  栅氧化层  市场营销  工艺技术  
2006年第07期 《电子设计技术》
采用65nm工艺的VIRTEX-5系列FPGA 采用新型ExpressFabric技术和经过验证的ASMBL架构第94-94页
关键词: asmbl架构  fpga  工艺  调试功能  栅氧化层  分析软件  周期时间  
2006年第06期 《今日电子》
图形化SOI LDMOS跨导特性的研究第-页
关键词: 图形化soi  ldmos  跨导  栅氧化层  漂移区  
2007年第06期 《电子器件》
高压SOI-LDMOS截止频率研究第736-739页
关键词: 截止频率  栅氧化层  漂移区  场极板  
2006年第06期 《微电子学》
铜互连中有限尺寸效应的抑制第23-26页
关键词: 有限尺寸效应  铜互连  平均自由程  声波散射  物理极限  金属互连  氧化层厚度  芯片尺寸  栅氧化层  光波长  
2006年第07期 《集成电路应用》
Xilinx65nm Virtex-5系列FPGA第61-62页
关键词: xilinx  asmbl架构  赛灵思公司  栅氧化层  ic技术  公司介绍  动态功耗  静态功耗  使用面积  
2006年第06X期 《电子产品世界》