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SILC效应机理及其对Flash Memory的影响
第105-107页
关键词: 应力感应泄漏电流 mosfet 栅氧化层
2011年第17期
《科技创新导报》
10keV X射线空间辐照总剂量试验可行性研究
第291-295页
关键词: 总剂量 x射线 试验 辐照 空间 辐射源 环境危害 在线测试 栅氧化层 辐射机理 剂量率 硅片 封装
2005年第03期
《核电子学与探测技术》
一种复合栅结构IEGT器件设计
第99-102页
关键词: iegt 沟槽 n型阻挡层 饱和压降 栅氧化层
2019年第09期
《微电子学与计算机》
硅片表面超薄氧化硅层厚度测量关键比对CCQM—K32
第617-622页
关键词: 计量学 厚度测量 栅氧化层 sio2 si 表面化学分析 x射线光电子能谱 关键比对
2013年第06期
《计量学报》
高温恒定电场
栅氧化层
TDDB寿命测试方法研究
第10-13页
关键词: 栅氧化层 可靠性评价 模型 参数提取
2004年第02期
《电子产品可靠性与环境试验》
应变Si1-xGex沟道PMOSFET空穴局域化研究
第4-9页
关键词: pmosfet 空穴局域化 栅氧化层 si帽层 sige层 缓冲层
2004年第01期
《固体电子学研究与进展》
用电子显微镜剖析存储器器件
第68-71页
关键词: 电子显微镜 存储器 透射电镜 栅氧化层 集成电路 ic微结构
2004年第05期
《半导体技术》
SOI LDMOS栅漏电容特性的研究
第352-356页
关键词: soi ldmos 栅漏电容 栅氧化层 漂移区 p阱
2005年第04期
《微电子学》
栅氧化层
击穿的统一逾渗模型
第54-58页
关键词: 栅氧化层 击穿 逾渗模型 缺陷产生机制 mos集成电路
2004年第01期
《西安电子科技大学学报》
NBT导致的深亚微米PMOS器件退化与物理机理
第1373-1377页
关键词: 器件退化 深亚微米 阈值电压漂移 栅氧化层 nbt 衬底 物理机理 依赖 影响 元素
2005年第03期
《物理学报》
P沟道VDMOS器件抗辐射加固技术研究
第581-585页
关键词: 功率器件 抗辐射加固 局部厚场氧化层 n体区 栅氧化层
2017年第04期
《微电子学》
首款65nm FPGA Virtex-5性能获得更大提升
第153-153页
关键词: fpga asmbl架构 ic技术 栅氧化层 动态功耗 静态功耗 使用面积 a系列
2006年第07期
《电子设计应用》
XILINX65纳米VIRTEX-5系列
第67-68页
关键词: xilinx asmbl架构 纳米 ic技术 赛灵思公司 栅氧化层 多平台 突破性 发运
2006年第05期
《世界电信》
65nm FPGA开始新一轮竞争 功耗问题仍是最大挑战
第124-124页
关键词: fpga 竞争对手 xilinx公司 stratix 功耗 65nm工艺 altera 栅氧化层
2007年第01期
《电子设计技术》
65nm Virtex-5 FPGA取得性能与密度突破
第31-31页
关键词: fpga xilinx公司 密度 开发方法学 栅氧化层 市场营销 工艺技术
2006年第07期
《电子设计技术》
采用65nm工艺的VIRTEX-5系列FPGA 采用新型ExpressFabric技术和经过验证的ASMBL架构
第94-94页
关键词: asmbl架构 fpga 工艺 调试功能 栅氧化层 分析软件 周期时间
2006年第06期
《今日电子》
图形化SOI LDMOS跨导特性的研究
第-页
关键词: 图形化soi ldmos 跨导 栅氧化层 漂移区
2007年第06期
《电子器件》
高压SOI-LDMOS截止频率研究
第736-739页
关键词: 截止频率 栅氧化层 漂移区 场极板
2006年第06期
《微电子学》
铜互连中有限尺寸效应的抑制
第23-26页
关键词: 有限尺寸效应 铜互连 平均自由程 声波散射 物理极限 金属互连 氧化层厚度 芯片尺寸 栅氧化层 光波长
2006年第07期
《集成电路应用》
Xilinx65nm Virtex-5系列FPGA
第61-62页
关键词: xilinx asmbl架构 赛灵思公司 栅氧化层 ic技术 公司介绍 动态功耗 静态功耗 使用面积
2006年第06X期
《电子产品世界》
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