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一种数模混合芯片的可测性设计和实现第22-27页
关键词: soc  可测性设计  测试向量  
2016年第04期 《集成电路通讯》
定点DSP芯片的一种BIST结构设计与实现第505-508页
关键词: 数字信号处理芯片  内建自测试  可测性设计  故障覆盖  
2006年第05期 《服装学报》
SOC中基于扫描的全速测性设计第41-42页
关键词: 全速扫描测试  可测性设计  soc  pll  synopsys  tetramax  
2008年第13期 《科学技术创新》
集成电路低功耗测试技术研究第46-46页
关键词: 集成电路  测试功耗  可测性设计  测试向量  
2015年第20期 《科学技术创新》
大规模集成电路可测性设计及其应用策略第29-34页
关键词: 集成电路  可测性设计  内建自测试  边界扫描  
边界扫描结构的FPGA实现第86-86页
关键词: 边界扫描结构  fpga实现  altera公司  数字电路系统  可测性设计  eda工具  系统配置  
2005年第06期 《电子设计应用》
基于边界扫描的星载计算机可测性设计第62-67页
关键词: 星载计算机  可测性设计  边界扫描  
CMOS图像传感器中A/D转换器的可测性设计第13-16页
关键词: cmos图像传感器  可测性设计  
IIC总线控制器IP核设计第18-22页
关键词: ip核设计  线控  可测性设计  iic总线  功能仿真  fpga  amba总线  控制器  接口  详细设计  
基于软件内建自测试模板内容的研究第22-24页
关键词: 内建自测试  可测性设计  程序流程  
2004年第09期 《计算机应用研究》
逆向的PLA可测性设计第1553-1556页
关键词: 可编程逻辑阵列  可测性设计  通用测试集  乘积线  移位寄存器  异或门串  
基于自定义探针的绑定前TSV测试方法第141-151页
关键词: 可测性设计  自定义探针  稳态测试  穿透硅通孔  
2018年第05期 《仪器仪表学报》
减少SOC测试时间的测试结构配置与规划第867-870页
关键词: 内嵌芯核  测试规划  扫描测试  可测性设计  
2005年第08期 《仪器仪表学报》
子系统级的DFT验证平台搭建第41-47页
关键词: 可测性设计  子系统  验证平台  
2018年第11期 《中国集成电路》
一种MCU可测性优化设计第28-32页
关键词: mcu  可测性设计  资源划分技术  mbist  
2018年第08期 《电子与封装》
C++类测试描述语言的设计和实现第78-80页
关键词: 面向对象软件测试  可测性设计  软件内建自测试  测试用例  测试语言  
2004年第12期 《计算机工程》
系统级的可测性设计第202-204页
关键词: 可测性设计  内建自测  扫描测试  
2005年第20期 《计算机工程》
基于JTAG标准的边界扫描在通用CPU中的设计第30-31页
关键词: 边界扫描  可测性设计  ieeei  
2004年第19期 《计算机工程》
应用于逻辑核的BIST关键技术研究第55-57页
关键词: 可测性设计  逻辑内建自测试  测试点插入  
2005年第23期 《计算机工程》
HDV视频解码芯片简介第81-82页
关键词: hdv  hm9501  框架结构  视频解码芯片  可测性设计  
2004年第06期 《中国集成电路》