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一种数模混合芯片的
可测性设计
和实现
第22-27页
关键词: soc 可测性设计 测试向量
2016年第04期
《集成电路通讯》
定点DSP芯片的一种BIST结构设计与实现
第505-508页
关键词: 数字信号处理芯片 内建自测试 可测性设计 故障覆盖
2006年第05期
《服装学报》
SOC中基于扫描的全速测性设计
第41-42页
关键词: 全速扫描测试 可测性设计 soc pll synopsys tetramax
2008年第13期
《科学技术创新》
集成电路低功耗测试技术研究
第46-46页
关键词: 集成电路 测试功耗 可测性设计 测试向量
2015年第20期
《科学技术创新》
大规模集成电路
可测性设计
及其应用策略
第29-34页
关键词: 集成电路 可测性设计 内建自测试 边界扫描
2005年第05期
《玉林师范学院学报》
边界扫描结构的FPGA实现
第86-86页
关键词: 边界扫描结构 fpga实现 altera公司 数字电路系统 可测性设计 eda工具 系统配置
2005年第06期
《电子设计应用》
基于边界扫描的星载计算机
可测性设计
第62-67页
关键词: 星载计算机 可测性设计 边界扫描
2005年第05期
《空间控制技术与应用》
CMOS图像传感器中A/D转换器的
可测性设计
第13-16页
关键词: cmos图像传感器 可测性设计
2004年第03期
《天津职业技术师范大学学报》
IIC总线控制器IP核设计
第18-22页
关键词: ip核设计 线控 可测性设计 iic总线 功能仿真 fpga amba总线 控制器 接口 详细设计
2005年第01期
《世界科技研究与发展》
基于软件内建自测试模板内容的研究
第22-24页
关键词: 内建自测试 可测性设计 程序流程
2004年第09期
《计算机应用研究》
逆向的PLA
可测性设计
第1553-1556页
关键词: 可编程逻辑阵列 可测性设计 通用测试集 乘积线 移位寄存器 异或门串
2004年第11期
《计算机辅助设计与图形学学报》
基于自定义探针的绑定前TSV测试方法
第141-151页
关键词: 可测性设计 自定义探针 稳态测试 穿透硅通孔
2018年第05期
《仪器仪表学报》
减少SOC测试时间的测试结构配置与规划
第867-870页
关键词: 内嵌芯核 测试规划 扫描测试 可测性设计
2005年第08期
《仪器仪表学报》
子系统级的DFT验证平台搭建
第41-47页
关键词: 可测性设计 子系统 验证平台
2018年第11期
《中国集成电路》
一种MCU可测性优化设计
第28-32页
关键词: mcu 可测性设计 资源划分技术 mbist
2018年第08期
《电子与封装》
C++类测试描述语言的设计和实现
第78-80页
关键词: 面向对象软件测试 可测性设计 软件内建自测试 测试用例 测试语言
2004年第12期
《计算机工程》
系统级的
可测性设计
第202-204页
关键词: 可测性设计 内建自测 扫描测试
2005年第20期
《计算机工程》
基于JTAG标准的边界扫描在通用CPU中的设计
第30-31页
关键词: 边界扫描 可测性设计 ieeei
2004年第19期
《计算机工程》
应用于逻辑核的BIST关键技术研究
第55-57页
关键词: 可测性设计 逻辑内建自测试 测试点插入
2005年第23期
《计算机工程》
HDV视频解码芯片简介
第81-82页
关键词: hdv hm9501 框架结构 视频解码芯片 可测性设计
2004年第06期
《中国集成电路》
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