作者：郭筝; 郭炜可测性设计内建自测扫描测试
摘要：随着IC设计的不断发展,SoC由于其可重用性而被广泛应用,这使得可测性设计(DFT)也被提高到系统级的高度.从顶层模块考虑,必须对不同模块采用不同的测试策略,合理分配测试资源.该文通过实例,提供了一种可行的系统级DFT方案.
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