作者：刘翊; 王成伟; 祝媛; 邱天琦可测性设计子系统验证平台
摘要：本文提出了一个基于子系统的可测性设计(DFT)验证平台,首先,介绍了可测性设计技术的基本原理,主要方法以及相关协议;其次,介绍了片上系统级的DFT测试平台,通过对其分析提出搭建子系统级DFT验证平台的必要性;最后,详细介绍了子系统级DFT验证平台的实现,包括其原理、实现方式及其测试结果等。该子系统级DFT验证平台可将DFT验证进场作业时间点提前,并且具有收敛速度快、易于搭建等特点,对系统级DFT验证具有一定的参考价值。
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