逆向的PLA可测性设计

作者：刘杰; 梁华国可编程逻辑阵列可测性设计通用测试集乘积线移位寄存器异或门串

摘要：根据PLA电路结构的规整性和独特性,提出了一种逆向思维的可测性设计方案,即通过适当的方法把输出端进行输入端化,把或阵列转变成与阵列,并采用了纵向观测技术 .经过方案评估得出此方案在不降低故障检测覆盖率的情况下,既使用通用测试集,又减少测试矢量数,还大大节约了附加硬件开销.

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