来源：学术之家整理 2025-03-18 15:42:22
《Journal Of Vacuum Science And Technology B:nanotechnology And Microelectronics》影响因子查询可以通过以下几种方法：
1. 通过期刊官网或数据库查询
期刊官网：访问Journal Of Vacuum Science And Technology B:nanotechnology And Microelectronics的官方网站。
Journal Citation Reports (JCR)：由Clarivate Analytics发布，是专门提供期刊引证报告的工具，可通过期刊名、ISSN/EISSN号等进行检索，查看期刊的影响因子及分区情况。
2. 通过学术平台或工具查询：
知网：国内研究者可以使用中国知网的高级检索功能，勾选“期刊导航”后输入刊名，在详情页查看复合影响因子、综合影响因子等本土化指标。
3. 通过图书馆或学术资源
中科院分区查询：过中科院的分区查询系统，输入期刊名称即可查看影响因子和分区。
《Journal Of Vacuum Science And Technology B:nanotechnology And Microelectronics》杂志是一本由AVS Science and Technology Society出版，专注于工程技术-工程：电子与电气领域研究的学术期刊，其ISSN为2166-2746，E-ISSN为2166-2754。重点介绍在ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC领域的最新关键主题。这些文章旨在为尚未深入研究该领域的读者提供最新的、完整的主题总结，帮助他们快速了解相关领域的核心内容。
该杂志已被SCIE数据库收录， 在中科院分区中，《Journal Of Vacuum Science And Technology B:nanotechnology And Microelectronics》位于大类学科：工程技术，分区为4区，小类学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程：电子与电气，分区为：4区。
这表明该期刊在工程：电子与电气领域具有较高的学术影响力和认可度。
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