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来源：学术之家整理 2026-07-06 19:55:05
《Ieee Transactions On Knowledge And Data Engineering》中文名称：《IEEE知识与数据工程汇刊》，创刊于1989年，由IEEE Computer Society出版商出版，出版周期Bimonthly。
范围包括计算机科学、人工智能、电气工程、计算机工程和其他适当领域的知识和数据工程方面。本论文集提供了一个国际和跨学科的论坛，用于交流知识和数据工程新发展的成果以及这些想法在硬件和软件中的可行性研究。具体涉及的领域如下：知识与数据工程的领域和领域：(a) 知识型系统和专家系统的知识和数据工程方面，(b) 与知识和数据管理有关的人工智能技术，(c) 知识和数据工程工具和技术，(d) 分布式知识库和数据库处理，(e) 实时知识库和数据库，(f) 基于知识和数据的系统的架构，(g) 数据管理方法，(h) 数据库设计和建模，(i) 查询、设计和实现语言，(j) 完整性、安全性和容错性，(k) 分布式数据库控制，(l) 统计数据库，(m) 这些系统的系统集成和建模，(n) 这些系统的算法，(o) 这些算法的性能评估，(p) 这些系统的数据通信方面，以及 (q) 这些系统的应用。
旨在及时、准确、全面地报道国内外计算机人工智能工作者在该领域的科学研究等工作中取得的经验、科研成果、技术革新、学术动态等。
| 机构名称 | 发文量 |
| CHINESE ACADEMY OF SCIE... | 33 |
| UNIVERSITY OF TECHNOLOG... | 27 |
| TSINGHUA UNIVERSITY | 23 |
| ZHEJIANG UNIVERSITY | 23 |
| NANYANG TECHNOLOGICAL U... | 22 |
| NATIONAL UNIVERSITY OF ... | 20 |
| RENMIN UNIVERSITY OF CH... | 19 |
| UNIVERSITY OF ELECTRONI... | 19 |
| BEIHANG UNIVERSITY | 18 |
| CHINESE UNIVERSITY OF H... | 17 |
| 国家/地区 | 发文量 |
| CHINA MAINLAND | 309 |
| USA | 202 |
| Australia | 79 |
| Singapore | 50 |
| Canada | 25 |
| Italy | 23 |
| England | 21 |
| South Korea | 18 |
| GERMANY (FED REP GER) | 17 |
| India | 13 |
| 文章引用名称 | 引用次数 |
| A Comprehensive Survey of Gr... | 120 |
| Untangling Blockchain: A Dat... | 103 |
| A Survey on Network Embeddin... | 84 |
| Heterogeneous Information Ne... | 56 |
| Local and Global Structure P... | 48 |
| One-Step Multi-View Spectral... | 41 |
| Influence Maximization on So... | 39 |
| NAIS: Neural Attentive Item ... | 37 |
| Low-Rank Sparse Subspace for... | 34 |
| Machine Learning for the Geo... | 31 |
| 被引用期刊名称 | 数量 |
| IEEE ACCESS | 1360 |
| IEEE T KNOWL DATA EN | 316 |
| INFORM SCIENCES | 295 |
| KNOWL-BASED SYST | 265 |
| MULTIMED TOOLS APPL | 231 |
| NEUROCOMPUTING | 227 |
| EXPERT SYST APPL | 226 |
| WORLD WIDE WEB | 160 |
| KNOWL INF SYST | 155 |
| FUTURE GENER COMP SY | 147 |
| 引用期刊名称 | 数量 |
| IEEE T KNOWL DATA EN | 316 |
| PROC VLDB ENDOW | 206 |
| IEEE T PATTERN ANAL | 137 |
| J MACH LEARN RES | 128 |
| IEEE T NEUR NET LEAR | 59 |
| PATTERN RECOGN | 59 |
| MACH LEARN | 58 |
| IEEE T IMAGE PROCESS | 56 |
| PHYS REV E | 45 |
| SCIENCE | 39 |
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