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考虑NBTI空穴俘获释放机制的组合逻辑门延迟预测
第1264-1272页
关键词: 老化 负偏置温度不稳定性 门延迟 模型 关键路径
2014年第10期
一款消除浮空点并自锁存的老化预测传感器
第216-222页
关键词: 传感器 老化预测 自锁存 浮空点 逻辑电路 负偏置温度不稳定性
2019年第03期
《半导体技术》
一种降低电路泄漏功耗的多阈值电压方法
第839-845页
关键词: 负偏置温度不稳定性 泄漏功耗 多阈值电压
2018年第06期
《微电子学》
电平转换电路的NBTI老化分析与容忍设计
第353-358页
关键词: 负偏置温度不稳定性 电平转换电路 老化容忍
2018年第03期
《微电子学》
多约束下寻找关键门的门替换技术缓解电路的NBTI效应
第113-116页
关键词: 负偏置温度不稳定性 电路老化 关键门 时延约束 影响因数 门替换
2018年第22期
《现代电子技术》
考虑路径相关性的TG-based缓解电路老化
第187-192页
关键词: 负偏置温度不稳定性 传输门 关键门 路径相关性
2018年第04期
《电子测量与仪器学报》
一种抗老化消除浮空点并自锁存的老化预测传感器
第944-950页
关键词: 负偏置温度不稳定性 传感器 老化 浮空点 集成电路
2017年第12期
《半导体技术》
基于故障插入的电路抗老化输入矢量生成研究
第723-728页
关键词: 老化 自动测试向量生成 固定故障 负偏置温度不稳定性 输入矢量控制
2017年第05期
《微电子学》
基于关键路径与改进遗传算法的最佳占空比求解
第124-128页
关键词: 集成电路 老化效应 最佳占空比 负偏置温度不稳定性 多输入向量控制 遗传算法
2017年第10期
《传感器与微系统》
采用双阈值配置的抗老化N型多米诺或门
第499-504页
关键词: 负偏置温度不稳定性 多米诺或门 抗老化 双阈值配置 时序余量
2017年第04期
《微电子学》
考虑输入占空比和随机性的M-IVC缓解电路老化
第968-976页
关键词: 负偏置温度不稳定性 多输入向量控制 输入波形 最优占空比 随机性
2017年第05期
《计算机辅助设计与图形学学报》
一种容软错误的可编程老化预测传感器
第1-4页
关键词: 负偏置温度不稳定性 老化 软错误
2017年第04期
《仪表技术与传感器》
应用基于双权值的门替换方法缓解电路老化
第171-180页
关键词: 负偏置温度不稳定性 电路时序违规 双权值 关键门 非门替换
2017年第02期
《应用科学学报》
电路抗老化设计中基于门优先的关键门定位方法
第258-263页
关键词: 负偏置温度不稳定性 关键门 抗老化 静态时序分析
2017年第02期
《微电子学》
协同输入向量控制与门替换技术缓解电路NBTI老化
第1796-1802页
关键词: 负偏置温度不稳定性 输入向量控制 最优输入控制向量 门替换 协同
2016年第10期
《计算机辅助设计与图形学学报》
工艺偏差下PMOS器件的负偏置温度不稳定效应分布特性
第261-267页
关键词: p型金属氧化层半导体 负偏置温度不稳定性 工艺偏差 阈值电压
2016年第16期
《物理学报》
缓解电路NBTI效应的改进门替换技术
第1029-1036页
关键词: 负偏置温度不稳定性 时序违规 时延关键性 关键门 门替换
2016年第07期
《电子测量与仪器学报》
NBTI效应导致SET脉冲在产生与传播过程中的展宽
第996-1001页
关键词: 脉冲展宽 解析模型
2011年第05期
《电子学报》
考虑工作负载影响的电路老化预测方法
第2242-2249页
关键词: 负偏置温度不稳定性 电路老化 占空比 非线性优化
2010年第12期
《计算机辅助设计与图形学学报》
一种可编程的老化感知触发器设计
第238-241页
关键词: 负偏置温度不稳定性 电路老化 触发器 可编程 延迟单元
2016年第02期
《佳木斯大学学报》
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