0
0
来源：学术之家整理 2025-03-18 15:40:21
《Ieee Design & Test》中文名称：《IEEE设计与测试》，创刊于2013年，由IEEE Computer Society出版商出版，出版周期6 issues/year。
《IEEE 设计与测试》提供原创作品，介绍用于设计和测试微电子系统（从设备和电路到完整的片上系统和嵌入式软件）的模型、方法和工具。该杂志侧重于当前和近期的实践，包括教程、操作方法文章和真实案例研究。该杂志力求通过专栏、访谈和圆桌讨论，向读者介绍重要的技术进步以及技术领导者的观点。主题包括半导体 IC 设计、半导体知识产权模块、设计、验证和测试技术、制造和产量设计、嵌入式软件和系统、低功耗和节能设计、电子设计自动化工具、实用技术和标准。
旨在及时、准确、全面地报道国内外COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE工作者在该领域的科学研究等工作中取得的经验、科研成果、技术革新、学术动态等。
| 文章引用名称 | 引用次数 |
| Edge Intelligence-On the Cha... | 8 |
| ZeNA: Zero-Aware Neural Netw... | 7 |
| Context-Aware Intelligence i... | 7 |
| Hierarchical Electric Vehicl... | 7 |
| A Survey on Security Threats... | 6 |
| Survey of Automotive Control... | 5 |
| Voltage-Driven Building Bloc... | 5 |
| Quantum Computing Circuits a... | 5 |
| Design-for-Testability of On... | 5 |
| CPU-FPGA Coscheduling for Bi... | 4 |
| 被引用期刊名称 | 数量 |
| IEEE ACCESS | 57 |
| IEEE T COMPUT AID D | 52 |
| IEEE T VLSI SYST | 38 |
| INTEGRATION | 35 |
| J ELECTRON TEST | 29 |
| ACM T DES AUTOMAT EL | 25 |
| IEEE T COMPUT | 21 |
| IEEE DES TEST | 16 |
| IEEE T CIRCUITS-I | 15 |
| MICROPROCESS MICROSY | 15 |
| 引用期刊名称 | 数量 |
| IEEE T COMPUT AID D | 27 |
| IEEE J SOLID-ST CIRC | 21 |
| NATURE | 20 |
| IEEE T VLSI SYST | 19 |
| IEEE T CIRCUITS-I | 17 |
| PHYS REV LETT | 17 |
| IEEE DES TEST | 16 |
| NAT COMMUN | 16 |
| P IEEE | 14 |
| IEEE COMMUN SURV TUT | 11 |
声明：该作品系作者结合互联网公开知识整合。如有错漏请联系我们，我们将及时更正。
