来源:学术之家整理 2025-03-18 15:40:05
《Acm Transactions On Reconfigurable Technology And Systems》中文名称:《Acm 可重构技术和系统交易》,创刊于2008年,由Association for Computing Machinery (ACM)出版商出版,出版周期4 issues/year。
TRETS 是专注于可重构系统及其底层技术研究的顶级期刊。其他期刊的范围、原理和覆盖范围通常仅限于可重构技术或可重构系统的特定方面。 TRETS 是一本专门讨论可重构性的期刊。
适合 TRETS 的主题包括可重构系统抽象的各个层次和可重构技术的各个方面,包括支持这些系统进行计算或其他应用的平台、编程环境和应用成功案例。
-可重构平台的主板和系统架构。
-可重构系统的编程环境,尤其是那些设计用于可重构系统的环境,这将提高程序员的工作效率。
-可重构系统的语言和编译器。
-逻辑综合和相关工具,因为它们与可重构系统有关。
-可以证明成功的应用。
开发可重构系统的底层技术。 (目前这项技术是 FPGA,但对后续技术的性质和使用的研究适合 TRETS。)
在考虑一篇论文是否适合 TRETS 时,首要的问题应该是可重构性是否对成功至关重要。如果上下文合适,架构、编程语言、编译器和环境、逻辑综合和高性能应用程序等主题都适合。例如,恰好使用 FPGA 的嵌入式应用程序的架构不一定适合 TRETS,但使用 FPGA 的架构,如果 FPGA 的可重构性是规范的固有部分(可能是由于需要在多个应用程序上重复使用),则适合 TRETS。
旨在及时、准确、全面地报道国内外COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE工作者在该领域的科学研究等工作中取得的经验、科研成果、技术革新、学术动态等。
| 机构名称 | 发文量 |
| UNIVERSITY OF TORONTO | 8 |
| MICROSOFT | 6 |
| ETH ZURICH | 4 |
| UNIVERSITY OF CALIFORNI... | 4 |
| UNIVERSITY OF MANCHESTE... | 4 |
| HELMHOLTZ ASSOCIATION | 3 |
| UNIVERSITY OF MASSACHUS... | 3 |
| UNIVERSITY OF PENNSYLVA... | 3 |
| CENTRE NATIONAL DE LA R... | 2 |
| FUDAN UNIVERSITY | 2 |
| 国家/地区 | 发文量 |
| USA | 26 |
| Canada | 13 |
| CHINA MAINLAND | 11 |
| England | 9 |
| GERMANY (FED REP GER) | 6 |
| Australia | 4 |
| Italy | 4 |
| Switzerland | 4 |
| France | 2 |
| Greece | 2 |
| 文章引用名称 | 引用次数 |
| FINN-R: An End-to-End Deep-L... | 13 |
| [DL] A Survey of FPGA-based ... | 10 |
| NEURAGHE: Exploiting CPU-FPG... | 5 |
| An Efficient Memory Partitio... | 5 |
| Instruction Driven Cross-lay... | 4 |
| COFFE 2: Automatic Modelling... | 4 |
| FeatherNet: An Accelerated C... | 4 |
| Recent Attacks and Defenses ... | 3 |
| RIPL: A Parallel Image Proce... | 3 |
| General-Purpose Computing wi... | 3 |
| 被引用期刊名称 | 数量 |
| IEEE ACCESS | 13 |
| ELECTRONICS-SWITZ | 10 |
| IEEE T VLSI SYST | 9 |
| ACM T RECONFIG TECHN | 7 |
| IEEE T COMPUT AID D | 6 |
| ACM T DES AUTOMAT EL | 5 |
| ACM T EMBED COMPUT S | 4 |
| J CIRCUIT SYST COMP | 4 |
| J REAL-TIME IMAGE PR | 4 |
| J SIGNAL PROCESS SYS | 4 |
| 引用期刊名称 | 数量 |
| IEEE T COMPUT AID D | 25 |
| IEEE DES TEST | 13 |
| IEEE T VLSI SYST | 12 |
| IEEE T COMPUT | 9 |
| IEEE T INF FOREN SEC | 8 |
| ACM T RECONFIG TECHN | 7 |
| ACM T DES AUTOMAT EL | 5 |
| IEEE T INSTRUM MEAS | 4 |
| IEEE T NUCL SCI | 4 |
| ACM COMPUT SURV | 3 |
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