来源：学术之家整理 2025-03-18 15:38:43
《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》中文名称：《电子测试理论与应用杂志》，创刊于1990年，由Springer US出版商出版，出版周期Bimonthly。
《电子测试：理论与应用杂志》是传播电子测试领域研究和应用信息的国际论坛。这是唯一一本专门针对电子测试的杂志。《电子测试：理论与应用杂志》上发表的论文经过同行评审，以确保原创性、及时性和相关性。该杂志提供档案材料，并通过其快速的出版周期，努力将最新成果带给研究人员和从业人员。虽然它强调发表珍贵的未发表材料，但需要更广泛曝光的优秀会议论文，只要符合该杂志的同行评审标准，编辑也会酌情发表。 《电子测试：理论与应用杂志》还寻求清晰的调查和评论文章，以促进对最新技术的更好理解。
《电子测试：理论与应用杂志》的报道包括但不限于以下主题：
VLSI 设备印刷电路板和电子系统的测试；
模拟和数字电子电路的测试；
微处理器、存储器和信号处理设备的测试；
故障建模；
测试生成；
故障模拟；
可测试性分析；
可测试性设计；
可测试性综合；
内置自测试；
测试规范；
容错；
形式验证硬件；
验证模拟；
设计调试；
测试和诊断的人工智能方法和专家系统；
自动测试设备（ATE）；
测试夹具；
电子束测试系统；
测试编程；
测试数据分析；
测试经济性；
质量和可靠性；
CAD 工具；
晶圆级集成器件测试；
可靠系统测试；
制造良率和良率改进设计；
故障模式分析和工艺改进
旨在及时、准确、全面地报道国内外ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工作者在该领域的科学研究等工作中取得的经验、科研成果、技术革新、学术动态等。
| 文章引用名称 | 引用次数 |
| Machine Learning for Hardwar... | 10 |
| Security Analysis of the Eff... | 6 |
| Single Event Transient Propa... | 5 |
| Test and Reliability in Appr... | 5 |
| An Extensible Code for Corre... | 4 |
| Impact of Aging on the Relia... | 3 |
| Hardware Trojan Detection Us... | 3 |
| Test Generation for Bridging... | 3 |
| A Low-Cost Test Solution for... | 3 |
| The Fundamental Primitives w... | 3 |
| 被引用期刊名称 | 数量 |
| J ELECTRON TEST | 30 |
| IEEE ACCESS | 21 |
| IEEE T COMPUT AID D | 16 |
| ANALOG INTEGR CIRC S | 11 |
| IEEE T VLSI SYST | 10 |
| IET COMPUT DIGIT TEC | 9 |
| MICROELECTRON J | 9 |
| SENSORS-BASEL | 9 |
| MICROELECTRON RELIAB | 8 |
| INTEGRATION | 7 |
| 引用期刊名称 | 数量 |
| IEEE T COMPUT AID D | 62 |
| IEEE T VLSI SYST | 58 |
| IEEE T COMPUT | 35 |
| IEEE T NUCL SCI | 34 |
| J ELECTRON TEST | 30 |
| IEEE DES TEST | 29 |
| IEEE J SOLID-ST CIRC | 29 |
| IEEE T MICROW THEORY | 21 |
| MICROELECTRON RELIAB | 19 |
| IEEE T CIRCUITS-I | 15 |
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