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《Ieee Transactions On Pattern Analysis And Machine Intelligence》杂志的收稿方向是什么?

来源:学术之家整理 2025-03-18 15:36:50

《Ieee Transactions On Pattern Analysis And Machine Intelligence》的收稿方向主要集中在COMPUTER SCIENCE, ARTIFICIAL INTELLIGENCE领域,涵盖该领域的全方面内容。

《Ieee Transactions On Pattern Analysis And Machine Intelligence》特点:

《Ieee Transactions On Pattern Analysis And Machine Intelligence》中文名称:《IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence》,创刊于1979年,由IEEE Computer Society出版商出版,出版周期Monthly。

《IEEE 模式分析与机器智能学报》发表有关计算机视觉和图像理解的所有传统领域、模式分析和识别的所有传统领域以及机器智能的选定领域的文章,特别强调模式分析的机器学习。还涵盖了视觉搜索技术、文档和笔迹分析、医学图像分析、视频和图像序列分析、基于内容的图像和视频检索、面部和手势识别以及相关的专用硬件和/或软件架构等领域。

《Ieee Transactions On Pattern Analysis And Machine Intelligence》定位:

旨在及时、准确、全面地报道国内外COMPUTER SCIENCE, ARTIFICIAL INTELLIGENCE工作者在该领域的科学研究等工作中取得的经验、科研成果、技术革新、学术动态等。

发文统计(统计区间:2023年-2024年)

机构名称 发文量
CHINESE ACADEMY OF SCIE... 60
UNIVERSITY OF CALIFORNI... 47
MICROSOFT 29
NANYANG TECHNOLOGICAL U... 24
TSINGHUA UNIVERSITY 24
CENTRE NATIONAL DE LA R... 23
PEKING UNIVERSITY 23
IMPERIAL COLLEGE LONDON 21
UNIVERSITY OF LONDON 20
UNIVERSITY OF SYDNEY 20
国家/地区 发文量
USA 271
CHINA MAINLAND 266
England 81
Australia 62
Singapore 51
GERMANY (FED REP GER) 49
France 44
South Korea 35
Italy 34
Switzerland 31
文章引用名称 引用次数
DeepLab: Semantic Image Segm... 1207
Places: A 10 Million Image D... 155
HyperFace: A Deep Multi-Task... 129
Direct Sparse Odometry 121
Long-Term Temporal Convoluti... 105
Multimodal Machine Learning:... 104
A Survey on Learning to Hash 84
SIFT Meets CNN: A Decade Sur... 79
Virtual Adversarial Training... 67
Deeply Supervised Salient Ob... 66
被引用期刊名称 数量
IEEE ACCESS 4700
MULTIMED TOOLS APPL 1793
IEEE T IMAGE PROCESS 1411
SENSORS-BASEL 1301
NEUROCOMPUTING 1287
PATTERN RECOGN 1119
IEEE T PATTERN ANAL 947
REMOTE SENS-BASEL 887
IEEE T CIRC SYST VID 658
PATTERN RECOGN LETT 637
引用期刊名称 数量
IEEE T PATTERN ANAL 947
INT J COMPUT VISION 342
IEEE T IMAGE PROCESS 274
ACM T GRAPHIC 169
J MACH LEARN RES 164
PATTERN RECOGN 83
IMAGE VISION COMPUT 56
IEEE T MULTIMEDIA 52
COMPUT VIS IMAGE UND 49
IEEE T KNOWL DATA EN 46

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