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NBT导致的深亚微米PMOS器件退化与物理机理第1373-1377页
关键词: 器件退化  深亚微米  阈值电压漂移  栅氧化层  nbt  衬底  物理机理  依赖  影响  元素  
2005年第03期 《物理学报》
物理型硬件木马失效机理及检测方法第49-57页
关键词: 硬件木马  热载流子注入  器件退化  失效分析  
2016年第11期 《物理学报》
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