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利用X射线探伤测量缺陷埋藏深度方法的探讨

作者:杨树胜; 茹宝宁; 张树海x射线缺陷埋藏深度二次曝光

摘要:特种设备产品在制造过程中,焊接是一种必不可少的手段,在焊接过程中难免会产生缺陷,在X射线检测中,由于无法准确判定缺陷在工件中的埋藏深度,从而影响修补效果,尤其是一些高、精、尖、厚度较大、材料特殊的产品,修补次数越多对材料性能影响越大,为保证修补效果,减少修补次数,需要对缺陷的埋藏深度进行定位,经过实践摸索,利用X射线二次曝光法确定缺陷在工件中的埋藏深度,与实际测量吻合较好。采用二次曝光法确定缺陷埋藏深度,可减少挖补量,保证修补效果,提高工作效率,经济效益显著。

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