作者：韩萌光照电阻率半导体光子能量
摘要：四探针测试法是测量半导体材料电阻率的主要手段,光照是影响测试精度的一种环境因素。文章利用RTS-8型四探针测试仪在不同光照环境下对样品进行测试,分析测量数据,结合相关理论,研究光照对测量结果的影响机制。
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