正电子发射断层显像与磁共振成像联合评价颈动脉易损斑块的研究进展

作者：张越; 杨旗; 卢洁正电子发射断层显像术磁共振成像颈动脉损伤动脉粥样硬化

摘要：脑卒中是严重危害人类生命和健康的主要原因,其发病率和死亡率在发展中国家均已位居首列。颈动脉粥样硬化中易损斑块（vulnerable plaque）与缺血性脑卒中密切相关。因此,早期识别易损斑块,评价斑块的稳定性,对于预防和控制缺血性脑卒中事件的发生尤为重要。

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