作者：高晓利; 马淑媛; 黄怡; 赖仁发粘接剂牙本质扫描电镜纳米渗漏边缘密合性
摘要：目的：通过纳米渗漏检测技术,观察4种粘接剂对牙本质粘接界面的微观形态及纳米渗漏情况,为临床上纳米渗漏的预防和牙本质粘接剂的选择提供参考。方法：选取48颗正常第三磨牙,随机分为4组,分别用A（Single bond 2）、B（Clearfil SE Bond）、C（XenoⅢ）、D（Easy one）4种粘接剂制备试件,50%硝酸氨银溶液渗染,扫描电镜下观察比较粘接界面的纳米渗漏程度。结果：4种粘接剂均有纳米渗漏发生。A组的纳米渗漏位于混合层底部,B、C和D组全层均可见。其中,A和C组的纳米渗漏无显著性差异（P〉0.05）,两者均多于B组,少于D组。结论：所有粘接剂均有纳米渗漏发生。全酸蚀粘接剂发生在混合层底部,自酸蚀粘接剂全层均可见。Clearfil SE Bond的纳米渗漏较Single bond 2和XenoⅢ少,Easy one的纳米渗漏最明显。
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