作者：叶瑞 宋华明 许前残差控制图t2控制图
摘要：针对多变量统计过程控制中失控信号的诊断问题,提出了一种基于最小二乘支持向量机（LS-SVM）残差控制图的诊断方法,给出了基于LS-SVM残差控制图的构造方法与诊断程序,进行了实例分析与模拟分析,并与基于主成分分析的诊断方法进行了对比。研究结果表明：基于LS-SVM残差控制图的方法可以准确地诊断出失控变量,同时在小样本情况下依然适用。
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