作者：全宏卫快速成像技术sefse颅脑病变
摘要：目的研究低场MRI快速成像技术对急诊颅脑相关疾病的诊断价值。方法选取我院2012年4月-2013年4月收治的124例颅脑疾病患者作为研究对象，全部患者均接受标准SE、FSE序列成像及低场MRI快速成像。比较两种成像方法对疾病的敏感性。结果124例颅脑疾病患者经标准T1WI序列检出97例，经改进后SE序列检出66例，标准SE序列对颅脑疾病检出率更高（P〈0．01）。患者经标准TWI序列检出116例，经改进后FSE序列检出113例，两组检出率比较，差异不显著（P〉0．05）。两种方法对出血性疾病及〉10mm的缺血性疾病、脑炎、脑挫伤的检出例数相同，均为58例。病变大小在（5—10）mm的患者，标准T1WI的检出例数为34例，改进后T1WI检出29例，改进后T2WI及标准T2WI的检出例数相同，均为50例，两组检出例数比较（P〉0．05）。病变〈5mm的患者，标准T1WI的检出例数为10例，改进后T1WI检出3例；标准T2WI的检出例数为29例，改进后T2WI检出19例；两组检出例数比较（P〈0．01）。结论低场MRI快速成像技术采集时间短，可显著缩减急诊患者检查时间。低场MRI快速成像对于病变〉5mm的患者诊断率较高，对急诊颅脑相关疾病的诊断具有十分重要意义。
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