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B位Ce^4+掺杂对Sm2Zr2O7组织结构及介电性能影响

作者:李振军; 李昊; 张红松稀土锆酸盐b位掺杂极化率介电常数

摘要:采用固相反应法制备了Sm2(Zr1-xCex)2O7陶瓷材料,采用XRD和FT-IR技术分析了其晶体结构,用SEM技术分析了其显微组织,用阻抗仪测试其介电性能。结果表明,所制备Sm2(Zr1-xCex)2O7陶瓷显微组织致密,晶粒大小比较均匀,晶界十分干净,并且Sm2(Zr1-xCex)2O7陶瓷的相结构与掺杂量相关,Sm2(Zr1-xCex)2O7(x=0,0.1)为焦绿石结构,Sm2(Zr1-xCex)2O7(x=0.2,0.3,0.4)为萤石结构。Sm2(Zr1-xCex)2O7陶瓷材料在B位大半径离子掺杂时,分子总极化率随掺杂量的增加而增大,介电常数和介电损耗随掺杂量的增加而增大。

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中国陶瓷

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