作者：傅霞萍; 应义斌; 刘燕德苹果试验研究光谱检测糖度多元线性回归分析近红外光谱技术内部品质无损检测波长组合校正误差方差分析表反射技术光谱测量测量位置试验结果测量距离光谱曲线统计软件校正方程相关系数预测模型
摘要：应用近红外光谱漫反射技术,开展了苹果内部品质无损检测的研究.对试验结果的方差分析表明:苹果不同测量位置对光谱测量的影响不显著,而不同测量距离对光谱影响较显著.运用SPSS10.0统计软件对苹果糖度与光谱曲线波峰处对应的吸光度进行多元线性回归分析,建立最佳单波长、最佳双波长组合、最佳三波长组合和最佳四波长组合的校正方程,相关系数R分别为0.621、0.675、0.797和0.822,标准校正误差(SEC)分别为1.75、1.65、1.34和1.27°Brix,相对校正误差(RSEC)分别为13.73%、12.96%、11.42%和10.81%,试验表明:利用近红外光谱技术无损检测苹果糖度等内部品质是可行性的,也为今后进一步建立水果内部品质预测模型奠定了基础.
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