作者：张军权 姚舜才cpld芯片设计条件并行接口存储器数字量超大规模集成电路存储测试技术现代测试技术
摘要：存储测试技术是建立在超大规模集成电路现代测试技术。存储测试系统是为完成存储测试目的而设计的物理系统，它工作在高温、高压、强冲击振动、高过载等恶劣环境和紧凑设计条件下，自动完成被测信息的实时采集与存储记忆。本系统主要由三路并行数据接口，RAM，CPLD芯片，以及计算机的外设组成。设计电路中CPLD主要起时序控制作用，在由计算机发出选择其中一路数据进行存储的处理请求后，经由CPLD来控制选通三路数字最中的一路数据，然后数据通过数据电缆被读取到存储器中并进行存储。数据存储完毕，当计算机发出读取数据请求后，通过CPLD的控制作用，存储后的数字量按照EPP模式从RAM经由并行接口读入到计算机中，通过软件实现显示和检测，本存储系统实现的是一个动态的存储过程。
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