作者：王斗文; 黄道臣; 赵守成; 陈长洋aas测量体系线性校正原子吸收光谱仪不确定度受控分析
摘要：介绍了采用原子吸收光谱仪(AAS)对金属硅中铁杂质含量进行测定时,线性校正和不确定度评估的方法.该方法的技术首先进行校正函数的线性假设和残差齐性模式下的单因素方差检验,然后考察测量系统的状态以决定系统是否需要更新.当校正函数通过一段时间的使用后,需要采用控制技术对校正曲线的有效性实施监控.本文技术的应用能展示出分析测量体系的持续能力水平,确保该水平测试下数据质量的有效性及测量系统潜在影响因素的预防,有利于统计受控状态下测量系统的不确定度评估.
注：因版权方要求，不能公开全文，如需全文，请咨询杂志社
