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相位解包裹算法中基于调制度的新质量图

作者:朱勇建; 刘立人; 栾竹; 鲁伟; 阳庆国; 李...测量质量图移相法解包裹相位调制度

摘要:在移相法测量光学波面或物体形貌过程中。相位解包裹是条纹自动分析中的关键技术,而质量图对解包裹相位算法起着至关重要的作用。用计算机模拟干涉图获得相位导数偏差质量图,指出其在标识相位数据质量方面的不足,并根据调制度结合相位梯度构造出新的质量图(称之为调制度相位梯度偏差质量图)来弥补此缺陷。再以新质量图数据为权值,采用加权最小二乘解包裹算法验证新质量图的可靠性。最后通过实验数据,比较新质量图和相位导数偏差质量图在解包裹相位算法中的作用,得到新质量图的解相结果均方根(RMS)值为2.652rad,而相位导数偏差质量图的解相结果均方根值为5.151rad,由此证明前者有更好的可靠性。

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中国激光

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