作者：冯伟刚; 许坤远; 佘卫龙; 王晓生光电子学光折变效应光散射光折变晶体
摘要：以光折变晶体KNSBN为研究对象，从理论和实验上仔细研究了标准的Z轴扫描技术，发现材料导致的光散射对测量结果有影响。因此把Z-扫描技术应用于光散射比较强的材料时，在进行Z-扫描测量时需排除光散射的影响。
注：因版权方要求，不能公开全文，如需全文，请咨询杂志社
《中国激光》（CN：31-1339/TN）是一本有较高学术价值的大型半月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《中国激光》先后被评为——中国自然科学优秀期刊；物理学类优秀期刊；无线电子学·电信技术类优秀期刊。收录情况：美国《ProQuest数据库》、英国《英国皇家化学学会文摘》。
北大期刊、CSCD期刊、统计源期刊
人气 34180 评论 48
人气 26777 评论 56
北大期刊、CSCD期刊
人气 25852 评论 49
统计源期刊
人气 22106 评论 38
