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提高整体开发流程的内存测试电路开发工具

作者:李韦宏开发工具测试电路内存半导体工艺ic设计dram系统芯片flash

摘要:随着半导体工艺技术的提升,IC的规模越来越大、频率越来越高,加上目前IC设计对于内存(SRAM、ROM、Embedded Flash、DRAM、Embedded DRAM)需求的比重越来越大,对于5G、TV、网通、物联网、挖矿机、车用电子、智能语音装置等新一代系统芯片(SoC)内的内存需求量也大,就意味着更大的芯片面积,且随着效能与耗电的要求更加严谨,芯片的工艺也就越往高阶工艺迈进,设计的复杂度越高,开发的时间相对也越高。

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中国集成电路

《中国集成电路》(CN:11-5209/TN)是一本有较高学术价值的大型月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《中国集成电路》报道内容涉及半导体微电子科学与技术及其应用的各个领域,包括微电子器件与电路的基础及其设计技术、电子设计自动化、工艺技术、设备材料、封装技术、产业发展、应用技术及市场等。

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