作者:芯测科技随机存取内存测试电路车用电子算法芯片科技电子相关可配置性
摘要:日前,芯测科技(iSTART-Tek Inc.)宣布提供车用芯片内存测试专用算法,通过可配置性设定,协助用户经过简单的设定,即可快速地产生内存测试与修复电路。车用电子相关芯片大多使用Multi-Port(Two-Port和Dual-Port)的静态随机存取内存(SRAM)并且与车用电子相关程序多半以Burst Read和Write居多。因此芯测科技提出许多测试上述情况的车用电子专用算法在内存测试电路开发环境中。
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