HI,欢迎来到学术之家,发表咨询:400-888-7501  订阅咨询:400-888-7502  股权代码  102064
0

上电复位电路在RFID标签中的可测试性设计

作者:温立国; 王岩por可测试性低功耗

摘要:在RFID标签的设计中,系统的功耗及性能一致性至关重要。上电复位电路作为整个系统的初始复位信号,其检测电源电压的大小、一致性和可测试性直接影响到标签的性能好坏和量产后的一致性。本文针对RFID标签对低功耗、高一致性的需求,通过创新设计了一款低功耗的POR模块,针对POR的特点设计了测试电路,成功实现POR电路检测电压的可测试、可筛选和可调整。圆片测试结果符合设计预期,为实现高性能,低成本的标签设计奠定基础。

注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社

中国集成电路

《中国集成电路》(CN:11-5209/TN)是一本有较高学术价值的大型月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《中国集成电路》报道内容涉及半导体微电子科学与技术及其应用的各个领域,包括微电子器件与电路的基础及其设计技术、电子设计自动化、工艺技术、设备材料、封装技术、产业发展、应用技术及市场等。

杂志详情