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爱德万测试2004年技术研讨会成功召开

北京召开部门技术研讨会成功工程师苏州soc测试ic测试互动交流

摘要:爱德万测试(苏州)有限公司日前在上海、北京两地召开了2004年技术研讨会。爱德万测试软件部门的工程师们以“Soc测试的领先技术”等为题作了精彩的发言。整个会议围绕着IC测试的新潮流和新手法,带给工程师们最新的资讯,并有与现场听众进行的互动交流,反响良好。

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中国集成电路

《中国集成电路》(CN:11-5209/TN)是一本有较高学术价值的大型月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《中国集成电路》报道内容涉及半导体微电子科学与技术及其应用的各个领域,包括微电子器件与电路的基础及其设计技术、电子设计自动化、工艺技术、设备材料、封装技术、产业发展、应用技术及市场等。

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