HI,欢迎来到学术之家,发表咨询:400-888-7501  订阅咨询:400-888-7502  股权代码  102064
0

低成本VLSI时延测试策略的探讨

作者:代建玮; 夏宇闻; 杨振时延测试vlsi低成本策略实际

摘要:本文针对VLSI的时延测试进行了研究和讨论.介绍了几种实现时延测试的方法,并提出了一种低成本实现时延测试的策略.在实际应用中取得了良好效果.

注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社

中国集成电路

《中国集成电路》(CN:11-5209/TN)是一本有较高学术价值的大型月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《中国集成电路》报道内容涉及半导体微电子科学与技术及其应用的各个领域,包括微电子器件与电路的基础及其设计技术、电子设计自动化、工艺技术、设备材料、封装技术、产业发展、应用技术及市场等。

杂志详情