作者：IsaoYano; RyoichiOgino非易失性存储器espec公司发展趋势多电平应用闪存mramoumferam持久力测试操作扰动测试坏块控制
摘要：目前便携式终端诸如PDAs及数码相机等产品的应用迅速扩展，广泛应用于建立数据基础结构。这些趋势加速了半导体制造商之间的竞争。非易失性存储器，由于在电源断电时能存储数据而引起越来越多的关注，并且使用范围日益广泛。对于测试非易失性存储器的设备要求具有超大容量处理速度和非
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《中国集成电路》（CN：11-5209/TN）是一本有较高学术价值的大型月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《中国集成电路》报道内容涉及半导体微电子科学与技术及其应用的各个领域，包括微电子器件与电路的基础及其设计技术、电子设计自动化、工艺技术、设备材料、封装技术、产业发展、应用技术及市场等。
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