作者：裴超学术报告测试北京科技部副部长黄卫
摘要：2017年10月9日至13日，由中国分析测试协会主办的第十七届北京分析测试学术报告大会（BCEIA2017）在北京国家会议中心举办。会议期间，科技部黄卫副部长，原科技部副部长大会主席程津培院士和科技部有关司局领导分5批到场参观指导。
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