相位测量轮廓术激光数字微镜器件测量精度光栅粒径测量光学测试计算机模拟消光法光电子
摘要:TB92 2004053827 双CCD系统在三维面形测量中的应用=Application of 2-CCD system in 3-D surface shape measurement[刊,中]/杨春平(电子科技大学光电信息学院。四川,成都(610054)),吴健…∥半导体光电,—2004,25(3),—219-223
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《中国光学》(CN:22-1400/O4)是一本有较高学术价值的大型双月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。
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