光学元件测试与设备

光学元件功率谱密度高功率激光系统借鉴意义评价参数计算方法评价准则检测国际标准应用领域

摘要：讨论了光学元件波面检测中,采用功率谱密度(PSD)作为重要评价参数的原因、相关的国际标准、PSD计算方法及PSD结果的评价准则等。虽然所进行的讨论主要是针对高功率激光系统中的光学元件检测,但对于其它应用领域的检测也是有借鉴意义的。

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