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斜投影显微图像分析法测量片状颗粒厚度的研究

作者:窦彦玲; 任中京; 江海鹰斜投影显微图像分析三维重构体视学

摘要:与传统正投影显微图像分析方法不同,本文应用斜投影法,通过变换观测颗粒群的角度,依据获得的光学显微镜下颗粒群的信息,推导出了颗粒群厚度的计算公式,并讨论了厚度分辨能力与倾斜角、放大倍数之间的关系,同时应用实例证明了该方法的可行性.

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中国粉体技术

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