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一种反熔丝FPGA可实现的闪存坏块管理算法

作者:莫凡; 陈晓飞; 陆一波闪存坏块管理fpga

摘要:该算法基于顺序循环存储的存储结构,闪存控制逻辑简单,可用常见的具有抗辐照指标的反熔丝FPGA可实现。本文简述了与算法相关的闪存功能,概述了顺序循环存储的存储结构,详述了该算法的原理,给出了实现元器件和仿真,最后将该算法与其他常见算法进行比较,给出了该算法的适用范围。

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中国电子科学研究院学报

《中国电子科学研究院学报》(CN:11-5401/TN)是一本有较高学术价值的大型月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《中国电子科学研究院学报》主要发表电子信息系统研发和综合集成领域内的技术和学术研究论文。聘请行业内工程院院士等资深专家以及近年来在此领域内卓有成就的中年专家组成编委会。办刊宗旨:注重研究成果,提高理论水平。

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