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大型电子系统紧缩试验方法研究

作者:张友兰 刘俊荣 赵晓林大型系统紧缩试验抽样方法相关性

摘要:通过对大型电子系统的抽样原理,紧缩试验方法,可靠性指标计算方法的研究,提出一种新型的基于大型电子系统小型化抽样试验的紧缩系统试验方法,采用最小二乘估计法中的多元回归分析法,得出紧缩系统与大型系统的性能、可靠性指标相关性。经验证试验证明,该试验方法是解决大型电子系统的可靠性验证试验的有效方法。

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中国电子科学研究院学报

《中国电子科学研究院学报》(CN:11-5401/TN)是一本有较高学术价值的大型月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《中国电子科学研究院学报》主要发表电子信息系统研发和综合集成领域内的技术和学术研究论文。聘请行业内工程院院士等资深专家以及近年来在此领域内卓有成就的中年专家组成编委会。办刊宗旨:注重研究成果,提高理论水平。

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