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“新版亚大地区F2电离层预测”方法数据验证

作者:鲁转侠 曹红艳 冯静斜向探测电离图亚大地区r12icmuffof2

摘要:分析了8条斜向探测电路4个月的实测数据,统计了每个月的F2层MUF月中值。将"新版亚大地区F2电离层预测"(NAOR)方法与其他三种预测方法(亚大地区F2电离层预测方法(AOR)、CCIR方法及URSI方法)预测的F2层MUF月中值与实测值进行了比较。结果表明,在中国区域内新版亚大地区F2电离层预测方法明显优于其他三种方法。最后建议,未来在没有更好方法预测F2层MUF月中值的情况下,"中国参考电离层"可采用新版亚大地区F2电离层预测方法。

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中国电子科学研究院学报

《中国电子科学研究院学报》(CN:11-5401/TN)是一本有较高学术价值的大型月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《中国电子科学研究院学报》主要发表电子信息系统研发和综合集成领域内的技术和学术研究论文。聘请行业内工程院院士等资深专家以及近年来在此领域内卓有成就的中年专家组成编委会。办刊宗旨:注重研究成果,提高理论水平。

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