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样本含噪情况下相关处理增益损失分析

作者:华云含噪样本互相关处理增益损失

摘要:利用互相关处理对辐射源信号进行检测是提高侦收系统灵敏度的一种有效手段。通常情况下,互相关的样本信号是通过天线接收辐射源的直达信号得到的,因此样本信号不可避免的会含有噪声。尤其是当信号功率较为微弱的情况下,样本的信噪比会较差。使用含有噪声的样本信号进行互相关处理时,样本中的噪声会抬高相关后的噪声基底,导致处理增益下降。通过理论分析得出了样本含噪情况下的相关处理增益,以及相对无噪理想样本情况下相关处理增益损失和样本信噪比之间的关系,并通过计算机仿真,证实了这个结论的正确性。

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中国电子科学研究院学报

《中国电子科学研究院学报》(CN:11-5401/TN)是一本有较高学术价值的大型月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《中国电子科学研究院学报》主要发表电子信息系统研发和综合集成领域内的技术和学术研究论文。聘请行业内工程院院士等资深专家以及近年来在此领域内卓有成就的中年专家组成编委会。办刊宗旨:注重研究成果,提高理论水平。

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