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任意平面阵综合优化的改进实数遗传算法研究

作者:周明 张树人 张浩斌互耦副瓣遗传算法阵列天线本征方向图

摘要:提出了一种基于本征激励方向图综合的改进实数编码遗传算法。在遗传算法选择算子中引进分裂选择机制,较好地开发了解空间;交叉算子采用了基因交换、中间重组、算术交叉形成综合交叉方式,对解的开发深度明显优于单一的传统算术交叉;对变异概率采用渐变控制,有效地扩大了搜索空间,克服了传统算法早熟的现象,良好的搜索结果证明了算法的精确性。算法基于本征方向图综合思想,由于实测本征方向图包涵了互耦信息,有效地解决了阵列天线互耦问题,避免了阵列互耦校正的复杂过程,具有较大的实用价值。

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中国电子科学研究院学报

《中国电子科学研究院学报》(CN:11-5401/TN)是一本有较高学术价值的大型月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《中国电子科学研究院学报》主要发表电子信息系统研发和综合集成领域内的技术和学术研究论文。聘请行业内工程院院士等资深专家以及近年来在此领域内卓有成就的中年专家组成编委会。办刊宗旨:注重研究成果,提高理论水平。

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