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SWI在弥漫性轴索损伤中的应用价值

作者:卢海涛 邢伟 俞胜男 丁玖乐磁敏感成像弥漫性轴索损伤格拉斯哥昏迷评分

摘要:目的探讨磁敏感成像(SWI)技术对于发现弥漫性轴索损伤(DAI)的出血性病灶的应用价值。方法对临床诊断为DAI的19患者,受伤两周内行头部磁共振常规序列及swI序列扫描,将sWI序列与常规T2wI序列发现的病灶数目进行比较。并对SwI序列发现的病灶数与患者入院时的格拉斯哥昏迷评分(Gcs)进行相关性分析。结票SwI序列、T2WI序列、T1WI序列发现病灶数目分别为:538个、128个、101个。SWI序列对于发现DAI病灶的能力显著高于常规T2WI序列(z=-3.764,P〈0.01),并且DAI病灶的数目与患者入院时Gcs评分呈高度的负相关(r=-0.746,P〈0.01)。结论SwI序列能较MRI常规序列更敏感的发现DAI出血性病灶,对临床医生准确评估DAI患者病情具有重要意义。

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