HI,欢迎来到学术之家,发表咨询:400-888-7501  订阅咨询:400-888-7502  股权代码  102064
0

光学测量方法在手机跌落测试中的应用

作者:徐劲澜; 梁晋; 赵鹏亮; 张桁维; 孟繁昌光学测量手机跌落试验数字图像相关全场应变

摘要:手机跌落试验主要用于检验手机质量,有限元分析模拟仿真方法能够帮助厂家在产品开发阶段优化手机结构,但不能对成品实物进行质量检验。针对上述问题,该文提出一种基于光学测量的手机跌落试验方法,采用双目立体视觉原理,利用摄影测量技术,提高数字图像相关法匹配精度,使用高速相机对手机跌落过程进行连续采集,提高系统标定精度后通过图像数据计算分析获取手机跌落过程中的全场位移及应变值。该文用华为荣耀4A手机前壳进行试验,成功获取其跌落过程中的三维全场变形数据,证明基于数字图像相关法手机跌落试验方法具有高精度、试验过程简便等优点,满足成品手机质量检测的需求。

注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社

中国测试

《中国测试》(CN:51-1714/TB)是一本有较高学术价值的大型月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《中国测试》以追踪测试领域学科发展前沿,阐释测试理论方法和测试实践应用之精髓为宗旨,是集国民经济多行业、多领域、多学科测试技术特色为一体的学术期刊。

杂志详情