作者：谢湘南 马冰 田书林过采样求均值adc转换器lpc2136芯片分辨率温度测量
摘要：针对LPC2136片内ADC的分辨率较低，不能满足测量精度的需要，而外接高分辨率的ADC成本又较高的情况，提出了采用过采样和求均值的方法增加LPC2136片内ADC的分辨率。基于过采样技术提高模数转换器ADC转换分辨率的基本原理及电路模型，给出了一个应用过采样技术增加LPC2136片内模数转换器ADC的分辨率转换结果的实现示例及其软件实现方法，并进行了温度实测实验，结果表明测量分辨率明显提高，能满足测量精度的需要。
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