作者：张小林 刘海彬intestmtmjtaglru
摘要：BIT（自检）是电子系统可测试性设计的重要组成部分，是电子系统或设备内部检测和隔离故障的重要手段。首先对电子系统BIT设计的定性及定量要求、基本方法及设计思路进行系统的阐述分析，结合电子系统或设备故障检测与隔离的难点，对国内外电子系统的可测试性新技术进行了介绍，并对这些技术应用于电子系统BIT的方法及可行性进行了分析说明。最后提出通过制定良好的BIT层次结构，运用边界扫描、维修总线等新技术，以及并行设计等开发模式，可以极大地提高电子系统或装备的BIT能力。
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