作者：乔爱民; 戴敏; 史金飞arms3c44b0测试主机系统总线半导体分立器件测试系统
摘要：半导体分立器件测试系统是提升半导体分立器件测试和封装企业自动化水平的一种重要的检测设备。介绍一种基于ARM微处理器S3C44B0的半导体分立器件测试系统测试主机系统总线的生成方法。在分析了测试系统的组成、S3C44B0的特点及测试主机系统总线性能要求后，完成了测试主机系统总线的生成。
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