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真实体系光电离截面共振结构的理论研究

作者:马晓光; 孙卫国; 程延松精确光电离截面共振结构密度效应

摘要:利用我们提出的普遍适用的精确光电离截面公式和介电影响函数研究了原子光电离共振结构受粒子数密度影响的效应.结果表明用新的光电离截面公式可以直接处理宏观环境对截面的影响,明显地优于孤立原子光电离截面公式.

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原子与分子物理学报

《原子与分子物理学报》(CN:51-1199/O4)是一本有较高学术价值的大型双月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《原子与分子物理学报》办刊宗旨:主要反映我国原子与分子物理及其应用方面的科学研究成果, 促进这些方面的学术交流,为加速实现四个现代化服务。

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