作者：卢洪伟 胡立群 江勇 林士耀 陈开云 段艳...逃逸电子硬x射线破裂电子雪崩
摘要：电子发生逃逸在托卡马克等离子体中是较常见的现象，特别是在等离子体破裂阶段，会产生大量的逃逸电子。本工作利用硬X射线监测系统，并结合其它相关诊断系统研究世界上第1个运行的全超导托卡马克（EAST）装置在欧姆放电的不同阶段逃逸电子的行为。研究结果表明：在欧姆放电起始阶段，逃逸电子的初级产生过程占主导地位。随着放电的进行，逃逸电子的次级雪崩过程逐渐增长，在放电后期一直到等离子体破裂阶段，雪崩过程将占据主导地位。等离子体破裂后，因存在较高的环电压而产生了高能逃逸电子拖尾。
注：因版权方要求，不能公开全文，如需全文，请咨询杂志社
