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PCB的CAF测试失效分析案例

作者:陈志新印制电路板失效分析cafpcb金属基材化学迁移阻焊油墨电场作用潜在危险绝缘电阻

摘要:1背景CAF是指印制电路板(PCB)内部在电场作用下,跨越非金属基材而迁移传输的导电性金属盐构成的电化学迁移。它通常发生在PCB基材中沿玻璃纤维到树脂界面上,从而导致两个相邻的导体之间绝缘性能下降甚至造成短路,是PCB产生故障的一个重大潜在危险的根源。

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印制电路信息

《印制电路信息》(CN:31-1791/TN)是一本有较高学术价值的大型月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《印制电路信息》读者包括PCB行业及其相关企业的各层次从业人员,包括领导决策层、科研应用层、市场研究人员、参考学习人士等。

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