作者：王永红; 余晓芬; 俞建卫; 黄其圣; 徐科军高精度非扫描三维探测系统微透镜阵列像散并行检测零件制造精度光聚焦
摘要：研制了一种基于像散法的非扫描三维探测系统,该检测系统利用微光学器件产生的二维点光源阵列实现并行像散光路,实现了对测量表面的全场同步检测.通过使用像散光斑光强差动算法,有效抑制光源的噪声和漂移对测量结果的影响,可以在较大采样间距下获得较高的轴向分辨率,有效解决了测量分辨率和测量速度之间的矛盾.介绍了非扫描三维检测系统的构成和三维轮廓提取方法,并给出了初步实验结果.
注：因版权方要求，不能公开全文，如需全文，请咨询杂志社
